更新時(shí)間:2024-06-16
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紙張紙板薄膜抗彎挺度儀PY-H609紙張彎曲挺度測(cè)試儀可以測(cè)試紙張挺度,紙板挺度,紙板折痕挺度,6檔可調(diào),90度旋轉(zhuǎn)測(cè)試,測(cè)試量程為10000mN。是由深圳市普云電子有限公司生產(chǎn)的,可以測(cè)試挺度和折痕挺度的紙張彎曲挺度。用于測(cè)試材料抗彎曲能力的檢測(cè)儀器。該儀器適用于厚度小于3mm的紙張、紙板及其它片狀材料的彎曲挺度測(cè)試。
深圳市普云電子有限公司出品的PY-H609薄膜紙張紙板彎曲挺度測(cè)定儀,折痕挺度儀,挺度試驗(yàn)儀。Taber泰伯爾式挺度測(cè)定儀適用于衡量紙和紙板耐彎曲強(qiáng)度的指標(biāo),本儀器用來測(cè)定紙和紙板挺度的儀器。特別適宜測(cè)定低定量和厚度小于1mm紙和紙板的挺度。
紙張紙板薄膜抗彎挺度儀PY-H609紙張彎曲挺度測(cè)試儀可以測(cè)試紙張挺度,紙板挺度,紙板折痕挺度,6檔可調(diào),90度旋轉(zhuǎn)測(cè)試,測(cè)試量程為10000mN。是由深圳市普云電子有限公司生產(chǎn)的,可以測(cè)試挺度和折痕挺度的紙張彎曲挺度。用于測(cè)試材料抗彎曲能力的檢測(cè)儀器。該儀器適用于厚度小于3mm的紙張、紙板及其它片狀材料的彎曲挺度測(cè)試。
參考標(biāo)準(zhǔn)
GB/T 23144《紙和紙板靜態(tài)彎曲挺度的測(cè)定通用原理》;
GB/T 22364《紙和紙板彎曲挺度的測(cè)定》;
ISO 5628《紙和紙板—靜態(tài)彎曲挺度測(cè)定—一般原理》;
ISO 2493《紙和紙板—彎曲挺度的測(cè)定》。
技術(shù)參數(shù)
?測(cè)量范圍:(15~10000)mN【500mN*m】
?測(cè)量厚度:(0-3)mm
?試樣尺寸:38×(70~150)mm
?有效尺寸:38×(1~50)mm
?準(zhǔn)確度:50mN以下±0.6mN,其余±1%
?分辨力:0.1mN
?示值變動(dòng)性:≤1%
?彎曲長(zhǎng)度:(50/25/20/15/10/5) ±0.1mm
?彎曲角度:(7.5o或15o)±0.3 o【1~90 o可調(diào)】
?負(fù)荷力臂長(zhǎng):200°±20°/min
?打印輸出:模塊式一體熱敏打印機(jī)
?數(shù)據(jù)顯示:5.7in液晶顯示,帶曲線圖顯示
?打印輸出:模塊式一體熱敏打印機(jī)
?工作環(huán)境:溫度(20±10)℃,濕度<85%
?外形尺寸:340mm*340mm*340mm
?重量:15kg
紙張紙板薄膜抗彎挺度儀產(chǎn)品特性
v7.5°和15°挺度測(cè)試((1~90)°之間任意設(shè)置);
v測(cè)試時(shí)間可在(3~35)s之間任意數(shù)字設(shè)置;
v測(cè)試角度變化由電機(jī)全自動(dòng)控制,提高測(cè)量效率,減少了人為的影響;
v可進(jìn)行6種彎曲長(zhǎng)度的測(cè)試:50mm、25mm、20mm、15mm、10mm、5mm;
v具有自動(dòng)調(diào)零功能,測(cè)試前無需人工對(duì)靠試樣;
v具備測(cè)量統(tǒng)計(jì)、打印等功能,測(cè)量時(shí)間可設(shè)定;
v測(cè)試完成后高速返回到起始位置,返回速度可在(1~12) 之間任意設(shè)置;
v人機(jī)性化的操作系統(tǒng),可與上位機(jī)軟件(另購(gòu))通訊。
微電腦紙張挺度測(cè)試儀選配件:
配套:
PY-H609挺度取樣器技術(shù)參數(shù):
?要進(jìn)行15°挺度測(cè)試和90°折痕挺度測(cè)試還需要配置:紙板挺度取樣器
?取樣尺寸:70×38±0.1 mm mm(挺度試樣)
?取樣尺寸:38×36 mm(折痕挺度試樣)
?取樣厚度:<1mm
全自動(dòng)紙張彎曲挺度測(cè)試儀
紙板挺度測(cè)定儀專業(yè)生產(chǎn)廠家——深圳市普云電子有限公司
紙張挺度測(cè)定儀PY-H609全自動(dòng)挺度測(cè)試機(jī),儀器從這一點(diǎn)開始作為零點(diǎn)進(jìn)行測(cè)量,并開始記錄力,角度和時(shí)間。這樣可以消除樣品本身彎曲帶來的一些測(cè)量誤差。測(cè)試夾具以每秒5度(ISO/GB)的速度旋轉(zhuǎn)到所選擇的角度,然后返回到起始位置。測(cè)試完成后立即顯示,峰值角度顯示,氣動(dòng)夾頭將打開。也可選GraphMaster軟件會(huì)記錄力、角度和時(shí)間分析和總結(jié),在測(cè)量過程中提供一個(gè)實(shí)時(shí)的測(cè)試曲線。
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